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提升InGaN基紅光Micro LED效率,法國這一團隊有新進展

作者:山東LED顯示屏廠家    發(fā)布時間:2021-10-22 13:51     瀏覽次數(shù) :


隨著Micro LED逐步走近大眾視野,跨越瓶頸問題顯得愈加迫切,其中就包括紅光Micro LED的生產(chǎn)和效率問題。
 
InGaN材料潛力大,但效率提升仍受限
 
多項研究表明,基于磷化物結構的紅光LED,外量子效率等性能會隨著芯片尺寸縮小而降低,尤其是當尺寸微縮至10μm以下時,因長載流子擴散長度及側壁高密度表面缺陷,性能損失會更為嚴重。不過,這一難題在近年來接連取得重要突破。
 
美國加州大學圣塔芭芭拉分校(UCSB)、阿卜杜拉國王科學技術大學(KAUST)、GaN Micro LED材料開發(fā)商Porotech、半導體材料商Soitec、首爾偉傲世、晶能光電等不少全球?qū)W者、研究者和技術開發(fā)商的研發(fā)成果均表明,基于InGaN材料制造的紅光Micro LED擁有更好的性能,在助力實現(xiàn)Micro LED全彩化方面前景可期。
 
但需要注意的是,現(xiàn)階段紅光Micro LED的效率仍受限,特別是尺寸小于10μm以下的芯片效率還遠遠達不到AR/VR、智能眼鏡、抬頭顯示器等Micro LED終端顯示設備的要求。上述提及的UCSB、KAUST、晶能光電等當下也在積極通過優(yōu)化生產(chǎn)步驟、提升材料質(zhì)量等不同方式來提升外量子效率。
 
法國團隊開發(fā)新型結構,有助于提升紅光芯片效率
 
最近,由Soitec與格勒諾布爾-阿爾卑斯大學(Université Grenoble Alpes,UGA)組成的研究團隊在基于隱埋氧化物的InGaN層上采用外延層沉積技術開發(fā)InGaN基紅光LED,相比在傳統(tǒng)襯底生長的紅光LED,產(chǎn)生的應力更少。換句話說,通過減少InGaN層的應力,可以提升InGaN基紅光Micro LED的效率。
 
據(jù)介紹,這個結構是通過Soitec專有的Smart Cut工藝構成,由于面內(nèi)晶格參數(shù)增高,銦合并能力增強,InGaN量子阱能夠跨越整個可見光光譜范圍。與此同時,InGaN結構還能夠降低器件活動區(qū)的內(nèi)部電場,有利于實現(xiàn)更高的效率。
 
去年,該法國研究團隊公布了基于InGaN Smart Cut襯底的紅光Micro LED的研究成果,彼時研發(fā)的芯片尺寸范圍為300μm×300μm到50μm×50μm。而最新的研究成果獲得了突破,芯片尺寸縮小至10μm。
 
在最新研究中,研究者團隊采用兩個變量。一個是銦含量為8%的InGaN種子層,厚度為120nm;另一個是銦含量為11%的InGaN種子層,厚度同樣是120nm。兩種都具有曲面臺階襯底形狀及V形缺陷,缺陷密度及尺寸會隨著銦含量的增加而提高。例如,銦含量增加使得V形凹面的尺寸從3×107cm-2及100nm擴大至2×108cm-2及130nm。
 
在芯片生產(chǎn)過程中,首先是將襯底裝載在MOCVD反應腔中,再沉積一個包括15周期超晶格的外延堆疊層、一個多量子阱活動區(qū)及一個電子阻擋層。N型In0.03Ga0.97N/GaN為活動區(qū)提供基礎,包含了5層2nm厚的In0.4Ga0.6N量子阱,由7.5nm厚的In0.03Ga0.97N阻擋層隔開。其中,15nm厚的電子阻擋層由Al0.1Ga0.9N制成。用高清透射式電子顯微鏡觀察該異質(zhì)結構,能夠發(fā)現(xiàn)由于局部應力松弛,活動區(qū)及電子阻擋層中有額外的錯位。
 
此前,研究團隊采用傳統(tǒng)LED芯片制備工藝來生產(chǎn)300μm×300μm至10μm×10μm的LED。而之前制備的器件組合受V形缺陷的限制,即當它們經(jīng)過整個結構時,就會從陽極到陰極之間產(chǎn)生一個電氣通路。為了解決這個問題,用于生產(chǎn)最新一代發(fā)射器的制造工藝包括增加一層保形層,通過化學機械拋光實現(xiàn)平面化。
 
同時,光致發(fā)光測量表明,襯底中銦含量的提升可推動Micro LED發(fā)射峰從635nm升高至653nm,波長更長,晶格參數(shù)就更高。
 
光提取效率、工作電壓、晶體質(zhì)量是關鍵影響因素
 
從終端應用層面來看,Micro LED要在潛力較大的VR/AR顯示器等應用中采用,尺寸需要縮小至10微米以下,且據(jù)UCSB介紹,外量子效率應至少為2%-5%才能滿足Micro LED顯示器的需求。
 
研究團隊指出,10μm的Micro LED芯片在8A·cm-2條件下,外量子效率最高僅為0.14%,低于UCSB團隊0.2%的研發(fā)成果,而這主要是受光提取效率低的影響。
 
具體而言,法國研究團隊制備的Micro LED芯片,光從背面收集,但與P型接觸的襯底沒有覆蓋所有頂層的結構,也沒有金屬能夠阻止光從側壁流失。同時,由于經(jīng)過背面的光需穿過超晶格、隱埋氧化物及藍寶石襯底,這一過程也影響了光提取效率。因此,光提取效率的實際數(shù)值難以預估,不過根據(jù)模擬顯示,光提取效率小于4%。
 
下一步,研究團隊還需努力提升光提取效率、降低工作電壓以及提高LED的晶體質(zhì)量,才能改善Micro LED芯片的性能。盡管提升紅光Micro LED芯片效率道阻且長,但相信在研究團隊和技術開發(fā)商的共同努力下,只要“對癥下藥”,未來終將取得更進一步的勝利。

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